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24年1月批次無源MPW有源MPW收集中,雙節(jié)同慶優(yōu)惠多!

2024-01-04

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2024年1月有源MPW收集中;無源MPW收集中,雙節(jié)同慶優(yōu)惠多!請?jiān)斣?

流片注冊: services@hopho.com.cn


——預(yù)定從速——



Part 1

平臺介紹

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▲中科院微電子所硅光平臺以8英寸CMOS工藝線為支撐,開發(fā)成套的硅光工藝模塊,建立了硅光設(shè)計(jì)仿真平臺、光電測試平臺。

▲2016年12月,平臺公開發(fā)布首版PDK;2020年12月,發(fā)布硅光平臺PDK2.0;2022年2月更新至PDK2.1。



Part 2

技術(shù)服務(wù)

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▲平臺為國內(nèi)外客戶提供包括無源器件和有源器件在內(nèi)的硅光全流程工藝服務(wù)。

▲平臺主要工藝模塊包括220nm/150nm/70nm無源器件刻蝕工藝、高速調(diào)制器和鍺探測器的摻雜工藝、介質(zhì)材料生長工藝、TiN加熱器電極工藝、鍺材料外延工藝、鎢填充孔工藝、硅和鍺的歐姆接觸及金屬層工藝等。

▲平臺配置了8-12英寸硅光晶圓自動(dòng)測試系統(tǒng),該解決方案基于成熟可靠的12寸探針臺和納米級精密自對準(zhǔn)定位組件,搭建起高效且兼容性高的光電混合測試系統(tǒng)。

▲平臺還配置了納米級端面耦合測試系統(tǒng),針對不同的耦合方式為為客戶提供不同的測試解決方案。

▲平臺建立了全程可追溯的測試數(shù)據(jù)庫,持續(xù)向客戶推出各類靈活、可靠、可升級的產(chǎn)品和服務(wù)。


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▲ IMECAS硅光平臺部分工藝及器件



基于220nm頂硅、3μm BOX層、高阻SOI襯底進(jìn)行硅光薄硅PDK器件 庫開發(fā),具體器件指標(biāo)如下:


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基于普通體硅襯底進(jìn)行LPCVD和PECVD氮化硅PDK器件庫開發(fā),研發(fā)出了覆蓋100-800nm厚度的超低損耗PESIN工藝,部分器件指標(biāo)如下:


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▲ 200m氮化硅器件庫


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▲ 400nm氮化硅器件庫


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▲ IMECAS硅光平臺全自動(dòng)耦合晶圓級測試平臺+芯片級測試平臺


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▲平臺每年可對外提供6-8次MPW流片服務(wù),目前已為行業(yè)提供 24 批次MPW流片服務(wù),同時(shí)為了滿足客戶的特殊工藝要求,可提供工藝定制服務(wù)。



Part 3

參考價(jià)格

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▲ 硅光MPW版圖提交請發(fā)送GDSII文件至services@hopho.com.cn


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